金属元素快速分析仪EDX4500

阅读次数：1993 发布时间：2022/7/25 11:01:45

能量色散荧光光谱仪EDX4500是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对大气颗粒物富集物重元素进行***分析，在大气滤膜富集物含量分析中具有无损、快速、准确等特点，有效提高检测时间和工作效率。

图1 EDX4500H 能量色散X荧光光谱仪

性能特点

超薄窗X光管，指标达到***水平
采用数字多道技术,可以达到***计数率,提高测试效率和精度
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率、峰背比和能谱特性
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增***应得到明显的抑制
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：能量色散X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30-200
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置
超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

大气颗粒物采集与制备

环境空气颗粒物采样点设置应符合HJ664相关要求，采样过程按照HJ/T194中颗粒物采样要求执行，当目标元素含量较低或采集PM10(PM2.5)样品时，可适当增加采样体积。无组织排放颗粒物样品采集按照HJ/T55中相关要求设置监测点位，其他与环境空气样品采集要求一致，两类颗粒物样品采集应符合环保部发布的相关标准要求。

大气颗粒物中重金属检测过程如图2所示，先空气及所携带颗粒物被流量控制的抽气泵抽入切割器，颗粒物采集主要依靠采样器的切割头，PM10采样器切割点是10 μm，并10 μm颗粒物的捕集效率在50 %以上，然后颗粒物被某一规格的采样滤膜捕获，常用的采样膜有石英滤膜、聚四氟乙烯滤膜（PTFE）、聚碳酸酯滤膜（PC）等，经过一段时间富集收集，待采样结束后，用镊子将滤膜取出，放入干燥、洁净、已编号的样品盒中保存。

图2 大气重金属收集与检测流程

本实验采用石英滤膜，滤膜（0.4 ～ 0.8 μm）直径47 mm，颗粒物切割器（PM10)，气流量控制1立方米/小时，每次采样24小时。编号为依次1#、2#、……7#。收集的样品予以干燥保存以备测。

大气颗粒物重金属曲线制定与样品分析

设定适当的测量条件，使用EDX4500H能量色散X荧光光谱仪扫描标准滤膜物质，建立待测元素含量与强度的校准工作曲线，然后对采集的大气颗粒物滤膜未知样品进行测量。

图3 EDX4500H大气颗粒物Pb元素工作曲线

图4 EDX4500H某大气颗粒物富集滤膜X荧光分析谱图

目《环境空气质量标准》GB3095-2012中规定，Pb元素的年平均浓度限值为0.5 μg/m3，由于Pb属于毒性较大金属，其浓度限值为多种重金属中较低的。仪器检测到4#样品的Pb元素含量超标，高达2.955 μg/m3，并且Fe元素含量也较高，达到1.062 μg/m3。除此之外，大气中常见的重金属污染物的Fe，Zn两种元素在各个样品中均被检测出。

结果表明，经石英滤膜采集大气中颗粒物，通过标准滤膜标定工作曲线，可以直接分析未知样品中大气重金属的含量，此方法不需消解，每个样品测量时间仅需数分钟。仪器满足环保部自2017年7月1日起实施的《环境空气颗粒物中无机元素的测定-能量色散X射线荧光光谱法》相关标准要求。

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司

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