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自动测膜厚仪

阅读次数:153    发布时间:2023/2/24 10:06:02

上照式设计膜厚仪EDX2000A,微聚焦,搭载可编程自动位移平台,无人值守、自动检测多样品,且更加智能化,采用自主研发的AI影像识别功能可完成智能寻点,自动匹配测试。对各超大异形件及微小密集型多点的测试更加、智能。
XTD-200<span style=全自动型膜厚仪

应用域

电镀行业
电子通讯
航天新能源
五金卫浴
电器设备
汽车制造
磁性材料
贵金属电镀
高校及科研院所等

设计亮点

上照式设计,可适应更多异型微小样品的测试。
的光路,更短的光程,相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。
可变焦高精摄像头,搭配距离补正系统,不仅可适应微小产品,同时也兼顾了台阶,深槽,沉孔样品的测试需求。 
可编程多点测试,能自动完成对多个样品多个点的测试,大大提高测样效率。
自带数据校对系统,让您永远不再为数据突然变化而担心。

超高硬件配置

采用进口高分辨率的FAST SDD探测器,高达140ev分辨率,能地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,优势巨大。
进口的高功率大高压单元搭配进口大功率X光管,能很好的保障信号输出与激发的稳定性,同时,故障率也大的降低。
高精度自动化的X轴,Y轴以及Z轴的三维联动,更快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。

软件界面

人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。 
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

EDX2000A上照式设计,微聚焦,搭载可编程自动位移平台,无人值守、自动检测多样品,且更加智能化,采用自主研发的AI影像识别功能可完成智能寻点,自动匹配测试。对各超大异形件及微小密集型多点的测试更加、智能。

XTD-200_02.png

微聚焦X射线装置:搭载微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统,小测量面积达0.003mm²

变焦装置及位置补偿算法:可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm

自主研发的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可测量

测量速度快效率高:一键测试、各部件置入下位机控制,搭载可编程自动化移动平台,移动精度2um,一次编程坐标存储无人值守检测成百上千个样品

高性能接收器:自由选配高性能接收器,无论微小样品、超大工件还是密集型多点测试均可轻松应对,可检测纳米厚度

自动智能检测:大行程内无人值守自动测量,搭配AI影像识别,实现自动、智能、在线检测
镀层测厚仪EDX2000A广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、环保行业、汽车行业、卫浴装饰、航空航天、引线支架、电镀行业等多种域

原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司

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