镀层测厚元素分析检测仪

阅读次数：8509 发布时间：2020/6/24 10:55:09

X射线镀层测厚仪THICK800A通过位置精度高的自动样品台和高灵敏度性能，可以对微小物体进行快速扫描和检测，也可对电子基板等符合材料制品的微小特定部位实施定点精确测量。

创新技术

1. 的X射线微聚焦技术，可将测试X光斑缩小至50um，能够对微小镀件测量或同一镀件不同部位镀层厚度，以确定镀层均匀度和厚度分布

2. 高清双路光学辅助摄像系统，轻松确定微小测试区域

3. 定位精度≤0.01mm的全自动X、Y、Z三轴三维测样平台和激光对焦系统，保障了微小区域的精确对焦，实现对样品进行快速准确测量。

4. 智能分析软件，对样品光学图像进行处理，对检测位进行连续多点自动测量，大尺寸样品自动判断扫描区域，薄膜FP法使镀层、多层膜分析更方便精准。

5. Φ0.05mm，Φ0.5mm，Φ2mm，Φ4mm共4个准直器自动切换，既能满足微小样品的精确测量，又可实现常规样品的准确测试。

应用范围

工业防腐镀层、装饰镀层、电子器件功能镀层、优化机械性能镀层、薄膜分析......

Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加*
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司

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