x射线荧光镀层膜厚仪

阅读次数：5687 发布时间：2023/6/20 14:19:45

产品参数：

型号：THICK800A

分析范围： S-U，可分析高3层15个元素

分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）

测量时间：40（可根据实际情况调整）

探测器分辨率：（160±5）eV

光管高压：5-50kV

管流：50μA-1000μA

环境温度：15℃-30℃

环境湿度：30%-70%

准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm

仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm

仪器重量：30kg

标准配置:

开放式样品腔。

二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机

适用于行业域：

金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定

黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测

主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；

电镀行业。金属电镀镀层光谱测厚仪.

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司