镀银层X射线测厚仪

阅读次数：4594 发布时间：2024/3/22 16:16:26

镀银层X射线测厚仪EDX600PLUS先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序，天瑞镀银层X射线测厚仪多可以测5层金属镀层厚度。
通过对镀层基材的测定，确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质，比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的，并且同标准片底材元素含量不一致的，则需要进行基材修正，选用样品所相似的底材进行曲线标定。
x-ray镀层膜厚仪

镀银层X射线测厚仪特点
1.上照式
2.高分辨率探测器
3.鼠标定位测试点
4.测试组件可升降
5.可视化操作
6良好的射线屛蔽
7.高格度移动平台
8.自动定位高度
9.超大样品腔
10 .小孔准直器
11.自动寻找光斑
12.测试防护
x-ray镀层膜厚仪

技术指标
镀银层X射线测厚仪型号:EDX600PLUS
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
镀银层X射线测厚仪相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司

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