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桌面式镀层测厚仪

阅读次数:2893    发布时间:2024/4/24 15:39:34

 台式镀层测厚仪EDX600PLUS采用下照式设计,搭载Muti-FP算法软件和微光聚集技术,以及高敏变焦测距装置,对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,都能够快速、、无损检测,可轻松应对镀层域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题,被广泛应用于珠宝饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种域。

规格参数

元素范围

Al(13)-Fm(100)

分析层数 5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析多可分析25种元素 
X射线管 50 W(50kV,1mA)微聚焦钨钯射线管(靶材可选配)
探测器 选配高灵敏度SDD探测器
准直器 Φ0.1-Φ3可选,多准可选
相机

高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素

手动样品XY平台 移动范围:50x50 mm
滤光片 固定初滤光片,多滤光可选
样品仓尺寸 320×480×130mm(W×D×H)
外形尺寸 330×580×360mm(W×D×H)
重量 40KG
电源 AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 
额定功率 150W

设计亮点
的下照式设计,一键式的按钮,让您的鼠标键盘不再成为必须,大减少您摆放样品的时间。
的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合高性能距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的*测试。
硬件配置
采用高分辨率的SDD探测器,分辨率高达140EV进口的大功率高压,让Ag,Sn等镀层的测量能更加稳定。
配备微聚焦的X光管,犹如给发动机增加了涡轮增压,让数据的准确性更上层楼。
多种准直器可搭配选择:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3mm。贴心打造出*适合您的那一款。
软件界面
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。曲线的中文备注,让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

工作原理

从X荧光分析测量原理可以看出镀层被激发区的特征X射线的强度与镀层和涂层元素含量成正比。在一定被激发区的测量区域内,镀层和涂层元素百分比含量是固定的,因而所测得的X荧光强度与该测量范围镀层和涂层的厚度成一定正比例关系。在一定的厚度范围内,镀层和涂层的厚度与激发区的特征X射线的强度成正比例关系,因此只要测量该范围内的X荧光强度值,即可算出镀层和涂层的厚度。

 

应用基体

铁基----□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,         
□Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag

铜基-----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr

锌基-----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au

镁铝合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au

塑胶基体----stic/Cu/Ni,stic/Cu/Ni/Cr

原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司

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