天瑞X荧光测厚仪

阅读次数：879 发布时间：2018/7/27 14:51:52

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

技术指标

X荧光测厚仪型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
X荧光测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

X荧光测厚仪仪是一款快速，无损检测金属镀层厚度的仪器，产品根据XRF分析原理，主要应用于镀金，镀镍，镀锌，镀铜，镀铑，镀钯，镀银等厚度检测，X荧光测厚仪Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

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